符合ISO/IEC 11801 及 EIA/TIA 492-AAAC的OM3光纤测试方法---DMD测试

　　问题:

　　是否必须通过DMD测试来证明50µm激光优化光纤是否符合OM3规格要求？

　　回答:

　　是的。 标准中的OM3光纤（在850nm具备2000 MHz-km有效模式带宽的激光优化50µm光纤）要求明确规定了关于测试方法的要求。通过以下几点可以充分说明微分模式延迟DMD测量对于证明是否符合ISO/IEC OM3以及TIA/EIA激光优化多模光纤要求是一项必须的要求。

　　1. ISO/IEC 11801 Ed. 2 - 2002 信息技术 – 用户建筑普通布线在表27中规定了DMD测试方法，并实施于OM3光纤。引用: "有效激光发射带宽是根据IEC/PAS 60793-1-49中定义的微分模式延迟（DMD）来确定的.”

　　2. IEC/PAS 60793-1-49 现发布为IEC 60793-1-49 Ed.1.0 光纤- 章节1-49: 测量方法及测试程序 – 微分模式延迟。

　　3. 针对850-nm激光优化, 50/125μm 渐变折射多模光纤的详细规格书 TIA/EIA 492-AAAC-2002规定了TIA/EIA-455-220 (FOTP-220)多模光纤微分模式延迟测量的使用，以便证明其模式带宽特性并根据该测量实施DMD规格要求。根据492- AAAC表3, 子条款4.4.9的解释: "在850nm，采用FOTP-220测试程序，测试微分模式延迟，确认有效模式带宽达到2000 MHz•km性能水平.”

　　4. IEC 60793-1-49是与TIA/EIA-455-220等同的国际性标准文件。因此，所有参考值符合相同的DMD测量要求。

　　5. 针对10Gb以太网的IEEE 802.3ae标准的光纤是指符合TIA/EIA-492-AAAC-2000中表52-25定义的模式带宽为2000 MHz-km的光纤。